BS-4020A Trinocular صنعتي Wafer تفتیش مایکروسکوپ
پیژندنه
BS-4020A صنعتي تفتیش مایکروسکوپ په ځانګړي ډول د مختلف اندازې ویفرونو او لوی PCB تفتیش لپاره ډیزاین شوی. دا مایکروسکوپ کولی شي د باور وړ، راحته او دقیق مشاهده تجربه چمتو کړي. په بشپړ ډول ترسره شوي جوړښت، د لوړ تعریف نظری سیسټم او ارګونومیکل عملیاتي سیسټم سره، BS-4020 مسلکي تحلیل احساسوي او د ویفرونو، FPD، سرکټ کڅوړه، PCB، مادي ساینس، دقیق کاسټینګ، میټالوسیرامیک، دقیق مولډ، د څیړنې او تفتیش مختلف اړتیاوې پوره کوي. سیمیکمډکټر او برقیات وغيره
1. د کامل مایکروسکوپي روښانتیا سیسټم.
مایکروسکوپ د کوهلر روښانتیا سره راځي، د لید په ساحه کې روښانه او یوشان روښانتیا چمتو کوي. د انفینټي آپټیکل سیسټم NIS45 سره همغږي، د لوړ NA او LWD هدف، کامل مایکروسکوپیک امیجنگ چمتو کیدی شي.
ځانګړتیاوې
د منعکس شوي روښانتیا روښانه ساحه
BS-4020A یو عالي انفینټي آپټیکل سیسټم غوره کوي. د لید ساحه یونیفورم، روښانه او د لوړ رنګ تکثیر درجې سره ده. دا مناسبه ده چې د مبهم سیمی کنډکټر نمونې مشاهده کړئ.
تیاره میدان
دا کولی شي د تیاره ساحې مشاهدې کې د لوړ تعریف عکسونه درک کړي او نیمګړتیاو ته د لوړ حساسیت معاینه وکړي لکه ښه سکریچ. دا د لوړې غوښتنې سره د نمونو د سطحې معاینې لپاره مناسب دی.
د لیږدول شوي روښانتیا روښانه ساحه
د شفافو نمونو لپاره، لکه FPD او نظری عناصر، د روښانه ساحې مشاهده د لیږدول شوي رڼا کنډنسر لخوا احساس کیدی شي. دا د DIC، ساده قطبي کولو او نورو لوازمو سره هم کارول کیدی شي.
ساده قطبي کول
د مشاهدې دا طریقه د بایرفرینګنس نمونو لپاره مناسبه ده لکه فلزي نسجونه، منرالونه، LCD او سیمی کنډکټر مواد.
انعکاس شوي روښانتیا DIC
دا طریقه په دقیق شکل کې د کوچنیو توپیرونو لیدلو لپاره کارول کیږي. د مشاهدې تخنیک کولی شي د ټیټ لوړوالی توپیر وښیې کوم چې په عادي مشاهده کې د امباسمینټ او درې اړخیزو عکسونو په بڼه نشي لیدل کیدی.
2. د لوړ کیفیت نیم APO او APO روښانه ساحه او تیاره ساحه اهداف.
د ملټي لییر کوټینګ ټیکنالوژۍ په خپلولو سره، د NIS45 لړۍ نیمه APO او APO هدف لینز کولی شي د کروی تخریب او له الټرا وایلیټ څخه نږدې انفراریډ ته د کروماتیک تخفیف جبران کړي. د عکسونو ګړندیتوب ، ریزولوشن او رنګ ورکول تضمین کیدی شي. د مختلف لوړولو لپاره د لوړ ریزولوشن او فلیټ عکس سره عکس ترلاسه کیدی شي.
3. عملیاتي پینل د مایکروسکوپ مخې ته دی، د کار کولو لپاره مناسب دی.
د میکانیزم کنټرول پینل د مایکروسکوپ مخې ته موقعیت لري (آپریټر ته نږدې) ، کوم چې د نمونې لیدو پرمهال عملیات خورا ګړندي او اسانه کوي. او دا کولی شي د اوږدې مودې مشاهدې له امله رامینځته شوي ستړیا کم کړي او د لوی حرکت لخوا راوړل شوي دوړو دوړو.
4. Ergo tilting trinocular viewing head.
د ارګو ټیلینګ لید لید کولی شي مشاهده ډیر راحته کړي ، ترڅو د اوږدې مودې کار کولو له امله رامینځته شوي د عضلاتو فشار او تکلیف کم کړي.
5. د تمرکز میکانیزم او د ټيټ لاس موقعیت سره د سټیج سم تنظیم کول.
د تمرکز میکانیزم او د مرحلې سم تنظیم کولو لاستی د ټیټ لاس موقعیت ډیزاین غوره کوي ، کوم چې د ارګونومیک ډیزاین سره مطابقت لري. کاروونکي اړتیا نلري د کار کولو پرمهال لاسونه پورته کړي، کوم چې د آرامۍ احساس خورا لوی درجې ورکوي.
6. مرحله یو جوړ شوی کلچنګ لاستی لري.
د کلچ کولو لاستی کولی شي د مرحلې ګړندي او ورو حرکت حالت درک کړي او کولی شي په چټکۍ سره د لوی ساحې نمونې ومومي. دا به نور ستونزمن نه وي چې نمونې په ګړندي او دقیق ډول ومومئ کله چې د مرحلې د سم تنظیم کولو هینډل سره په ګډه کار واخلئ.
7. پراخه مرحله (14"x 12") د لوی ویفرونو او PCB لپاره کارول کیدی شي.
د مایکرو الیکترونیک او سیمی کنډکټر نمونو ساحې په ځانګړي توګه ویفر لوی وي ، نو د عادي میټالوګرافیک مایکروسکوپ مرحله نشي کولی د دوی مشاهدې اړتیاوې پوره کړي. BS-4020A د لوی حرکت رینج سره پراخه مرحله لري ، او دا اسانه او اسانه حرکت کوي. نو دا د لوی ساحې صنعتي نمونو د مایکروسکوپیک مشاهدې لپاره یو مثالی وسیله ده.
8. د 12” ویفر هولډر د مایکروسکوپ سره راځي.
د 12” ویفر او کوچنۍ اندازې ویفر د دې مایکروسکوپ سره لیدل کیدی شي ، د ګړندي او ښه حرکت مرحلې هینډل سره ، دا کولی شي د کار موثریت خورا ښه کړي.
9. د جامد ضد محافظتي پوښ کولی شي دوړو کم کړي.
صنعتي نمونې باید د تودوخې دوړو څخه لیرې وي، او یو څه دوړو کولی شي د محصول کیفیت او د ازموینې پایلې اغیزه وکړي. BS-4020A د جامد ضد محافظتي پوښ پراخه ساحه لري ، کوم چې کولی شي د تودوخې دوړو او دوړو دوړو څخه مخنیوی وکړي ترڅو د نمونو ساتنه وکړي او د ازموینې پایله خورا دقیقه کړي.
10. اوږد کاري واټن او د NA لوړ هدف.
د سرکټ بورډ نمونو کې بریښنایی اجزا او سیمی کنډکټر په قد کې توپیر لري. له همدې امله، په دې مایکروسکوپ کې د اوږدې کاري فاصلې موخې منل شوي. په ورته وخت کې، د رنګ تولید په اړه د صنعتي نمونو د لوړې اړتیاو پوره کولو لپاره، د څو پوړونو کوټینګ ټیکنالوژي په تیرو کلونو کې رامینځته شوې او ښه شوې او د BF&DF نیمه APO او APO هدف د لوړ NA سره منل شوي، کوم چې کولی شي د نمونو اصلي رنګ بیرته راولي. .
11. د کتنې مختلف میتودونه کولی شي د ازموینې مختلف اړتیاوې پوره کړي.
| روښانه کول | روښانه ډګر | تیاره میدان | DIC | فلوروسینټ رڼا | قطبي رڼا |
| منعکس شوي روښانتیا | ○ | ○ | ○ | ○ | ○ |
| لیږدول شوي روښانتیا | ○ | - | - | - | ○ |
غوښتنلیک
د BS-4020A صنعتي تفتیش مایکروسکوپ د مختلف اندازې ویفرونو او لوی PCB معاینې لپاره یو مثالی وسیله ده. دا مایکروسکوپ په پوهنتونونو، الکترونیکي او چپس فابریکو کې د ویفرونو، FPD، سرکټ کڅوړې، PCB، موادو ساینس، دقیق کاسټینګ، میټالوسیرامیک، دقیق مولډ، سیمی کنډکټر او الکترونیکونو د څیړنې او تفتیش لپاره کارول کیدی شي.
مشخصات
| توکي | مشخصات | BS-4020A | BS-4020B | |
| نظری سیسټم | NIS45 لامحدود رنګ اصلاح شوی نظری سیسټم (ټیوب اوږدوالی: 200mm) | ● | ● | |
| د لید سر | د ایرګو ټلټینګ ټرینوکول سر، د تعدیل وړ 0-35 ° متوجه، د انټرپولری فاصله 47mm-78mm؛ د ویشلو تناسب Eyepiece: Trinocular = 100:0 یا 20:80 یا 0:100 | ● | ● | |
| Seidentopf Trinocular Head، 30° مائل، د انټرپولي فاصله: 47mm-78mm؛ د ویشلو تناسب Eyepiece: Trinocular = 100:0 یا 20:80 یا 0:100 | ○ | ○ | ||
| د سیډینټوف دوربین سر، 30 درجې متوجه، د انټرپولي فاصله: 47mm-78mm | ○ | ○ | ||
| سترګې | د سوپر پراخه فیلډ پلان ای پیس SW10X / 25mm ، ډیوپټر د تنظیم وړ | ● | ● | |
| د سوپر پراخه فیلډ پلان ای پیس SW10X / 22mm، ډیوپټر د تنظیم وړ | ○ | ○ | ||
| د اضافي پراخه ساحې پلان ای پیس EW12.5X/17.5mm، ډیوپټر د تنظیم وړ | ○ | ○ | ||
| د پراخه ساحې پلان ای پیس WF15X / 16mm، ډیوپټر د تنظیم وړ | ○ | ○ | ||
| د پراخه ساحې پلان ای پیس WF20X/12mm، ډیوپټر د تنظیم وړ | ○ | ○ | ||
| هدف | NIS45 انفینیټ LWD پلان نیم APO هدف (BF & DF)، M26 | 5X/NA=0.15، WD=20mm | ● | ● |
| 10X/NA=0.3، WD=11mm | ● | ● | ||
| 20X/NA=0.45، WD=3.0mm | ● | ● | ||
| NIS45 انفینیټ LWD پلان APO هدف (BF & DF)، M26 | 50X/NA=0.8، WD=1.0mm | ● | ● | |
| 100X/NA=0.9، WD=1.0mm | ● | ● | ||
| NIS60 انفینیټ LWD پلان نیم APO هدف (BF)، M25 | 5X/NA=0.15، WD=20mm | ○ | ○ | |
| 10X/NA=0.3، WD=11mm | ○ | ○ | ||
| 20X/NA=0.45، WD=3.0mm | ○ | ○ | ||
| NIS60 انفینیټ LWD پلان APO هدف (BF)، M25 | 50X/NA=0.8، WD=1.0mm | ○ | ○ | |
| 100X/NA=0.9، WD=1.0mm | ○ | ○ | ||
| پوزه | شاته سیکسټیپل ناک پیس (د DIC سلاټ سره) | ● | ● | |
| کنډنسر | LWD کنډنسر NA0.65 | ○ | ● | |
| لیږدول شوي روښانتیا | د 40W LED بریښنا رسولو د آپټیکل فایبر ر lightا لارښود سره ، د شدت تنظیم وړ | ○ | ● | |
| منعکس شوي روښانتیا | انعکاس شوی رڼا 24V/100W هالوجن څراغ، د کوهلر روښانتیا، د 6 موقعیت برج سره | ● | ● | |
| د 100W هالوجن څراغ کور | ● | ● | ||
| د 5W LED څراغ سره منعکس شوی رڼا، د کوهلر روښانتیا، د 6 موقعیت برج سره | ○ | ○ | ||
| BF1 روښانه ساحه ماډل | ● | ● | ||
| BF2 روښانه ساحه ماډل | ● | ● | ||
| د DF تیاره ساحې ماډل | ● | ● | ||
| جوړ شوی ND6، ND25 فلټر او د رنګ سمون فلټر | ○ | ○ | ||
| د ECO فعالیت | د ECO تڼۍ سره د ECO فعالیت | ● | ● | |
| تمرکز کول | د ټیټ موقعیت کواکسیل کوټ او ښه تمرکز، ښه ویش 1μm، د حرکت حد 35mm | ● | ● | |
| پړاو | 3 پرتونه میخانیکي مرحله د کلچنګ هینډل سره، اندازه 14 "x12" (356mmx305mm)؛ د حرکت حد 356mmX305mm؛ د لیږد شوي رڼا لپاره د رڼا ساحه: 356x284mm. | ● | ● | |
| د ویفر هولډر: د 12 انچ ویفر ساتلو لپاره کارول کیدی شي | ● | ● | ||
| د DIC کټ | د منعکس شوي روښانتیا لپاره DIC کټ (د 10X، 20X، 50X، 100X موخو لپاره کارول کیدی شي) | ○ | ○ | |
| د پولر کولو کټ | د انعکاس روښانتیا لپاره پولاریزر | ○ | ○ | |
| د منعکس شوي روښانتیا لپاره تحلیل کونکی، 0-360 ° د څرخیدو وړ | ○ | ○ | ||
| د لیږد شوي روښانتیا لپاره پولاریزر | ○ | ○ | ||
| د لیږد شوي روښانتیا لپاره تحلیل کونکی | ○ | ○ | ||
| نور لوازم | 0.5X C-ماونټ اډاپټر | ○ | ○ | |
| 1X C-Mount اډاپټر | ○ | ○ | ||
| د دوړو پوښ | ● | ● | ||
| د بریښنا تار | ● | ● | ||
| کیلیبریشن سلایډ 0.01mm | ○ | ○ | ||
| د نمونې پریسر | ○ | ○ | ||
یادونه: ● معیاري جامې، ○ اختیاري
نمونه انځور
ابعاد
واحد: mm
د سیسټم ډیاګرام
سند
لوژستیک
